供应Ti30 型红外线成像仪

Ti 30技术参数 
温度 　温度测量范围 　0～250°C(32～482°F) 
　精度 　±2%或±2°C,取校准几何关系及25°C时较大者 
　重复精度 　±1%或±1°C,取较大者 
　NETD 　200mK 
　温度指示分辩率 　0.1(°F或°C) 
光学/IR
 　响应波长 　7～14微米 
　目标瞄准 　单波长激光点(符合1EC2类及FDAII类要求) 
　光学分辩率 　90:1 
　测量圆点较小直径 　距离60㎝(24″)时为7㎜(0.27″) 
　图像帧频 　20Hz 
　视场(FOV) 　水平17°x垂直12.8° 
　瞬时视场(IFOV) 　1.9mrad 
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